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IQM-233 薄膜沉積控制器 PCI-EXPRESS 卡可使您的 PC 變成薄膜沉積控制器。這種由 INFICON 設計和制造的產品是系統(tǒng) OEM 或要將薄膜...

美國英?？礕uardian EIES 高精度控制器,可將沉積速度控制在 0.1 到 10,000 Å/s 范圍內。它可以操作一個或兩個傳感器，至多 8...

IMM-100 薄膜沉積監(jiān)測儀，重復通過精 確的速率和厚度監(jiān)測。保護和增加您的利潤 IMM-100是一款采用ModeLock技術構建的沉積監(jiān)測儀，以zui高的厚...

IMM-200 薄膜沉積監(jiān)測儀是一款采用ModeLock技術制造的沉積監(jiān)測儀，以zui高的厚度精度，上佳的測量分辨率和zui低的速率噪聲zui大限度地提高再現(xiàn)性...

STM-2 USB 薄膜速率/厚度監(jiān)測儀STM-2 將 USB 連接的簡單與精密測量引擎的精度相結合，在一個結構緊湊、價格便宜的封裝內實現(xiàn)所有功能。STM-2 ...

STM-2XM 是一款雙通道速率/厚度監(jiān)測儀，它將高精度與靈活編程相結合，易于操作，價格實惠。多個應用的簡單操作，功能豐富，易于使用!

INFICON石英晶片性能表現(xiàn)超卓和可靠，是目前市場上的晶片及苛刻應用的上佳選擇；在各種類型的材料、應用和行業(yè)中已有超時數(shù)百萬次工藝生產應用的成功例子。詳情請致...

IC/6具有寬廣的功能，它可啟動抽空過程、控制閥門、啟用基片加熱器等。這些增強的功能使系統(tǒng)無需配備輔助儀器，從而降低系統(tǒng)的復雜性和成本。IC/6的邏輯與控制功能...

多用途的IC/5 膜厚控制儀 理想地適用于控制多源、多坩堝、多材料或多過程系統(tǒng)的膜層沉積速率和膜厚。IC/5可滿足即使Z復雜、Z高要求與特殊應用的需要。它擅長于...

膜厚監(jiān)測儀SQM160是利用INFICON石英晶體傳感技術在鍍膜過程中測量沉積速率和膜厚的精密儀器，標準型有兩路傳感器輸入，同時，4路傳感器輸入可選，具體視用戶...

Cygnus 2薄膜沉積控制器在INFICON薄膜沉積控制器可靠成熟的性能基礎上，增添了更多不一般的功能，可幫助您實現(xiàn)OLED過程的*大價值。Cygnus 2 ...

膜厚控制儀 INFICON, 薄膜鍍層控制技術的*者，現(xiàn)在為您提供高生產價值和低擁有成本的*儀器。 無論您需要控制產品的合格性，或是用于科研項目。INFICON...

膜厚控制儀普及的多層鍍膜控制儀INFICON SQC310 系列為您提供其它生產廠薄膜控制儀所沒有的性能與特色. 同時可為您的應用選擇理想的模式: 順序鍍膜（S...

石英晶體監(jiān)測儀更小的尺寸、更低的成本，擁有傳統(tǒng)QCM的*一樣的性能。在測量薄膜沉積速率和膜層厚度中，INFICON新型的Q-podTM傳感器是一種外觀小巧，成本...